از نظر آماری فراوانی موارد بالانس تک صفحه ای در صنعت بیشتر از سایر موارد بالانس است و الگوریتم انجام این عملیات روی تقریبا همه ی دستگاههای آنالایزر وجود دارد. تمامی این الگوریتم ها در نهایت می توانند مقدار جرم اصلاحی و زاویه محیطی نصب آن را اعلام کنند که دستگاه ما هم از این قاعده مستثنی نیست. اما آیا می دانستید که ممکن است در مواردی بعد از انجام عملیات بالانس تک صفحه ای مجبور شوید بالانس دو صفحه ای انجام دهید؟! بلی این امکان وجود دارد زیرا هنوز تمامی روشهای موجود نمی توانند بدرستی موقعیت محوری نصب جرم اصلاحی را اعلام کنند. این مورد از موارد تحقیقاتی شرکت بتاست که در صورت موفقیت و ایجاد یک روش عملی برای تشخیص موقعیت محوری به الگوریتم بالانس اضافه خواهد شد.
رنج دینامیکی یک وسیله اندازه گیری در واقع معیاری از محدوده سیگنال قابل اندازه گیری توسط آن است. هر چه رنج دینامیکی بیشتر باشد، محدوده وسیعتری از سیگنالهای ورودی قابل اندازه گیری هستند. در مورد دستگاه آنالایزر معمولا محدوده فرکانسی سیگنال ارتعاشات قابل اندازه گیری به عنوان رنج دینامیکی مطرح میشود البته دامنه ارتعاشات هم حائز اهمیت است. دامنه اندازه گیری ارتعاشات توسط دستگاه آنالایزر VAD1.03 از منفی ۵۰۰ تا مثبت ۵۰۰ m/s2 است و حداقل مقدار شتاب قابل اندازهگیری توسط دستگاه ۰.۰۰۳۸ m/s2 است. با این وجود رنج دینامیکی دستگاه برابر با 108dB است. 20log((500 – -500)/(0.0038))=108
همه می دانیم که اگر بخواهیم یک طولی را اندازه گیری کنیم برای افزایش دقت در اندازه گیری، بهتر است از خط کشی استفاده کنیم که حتی الامکان بر حسب میلیمتر مدرج شده باشد. به عبارت بهتر تعداد خطوط در این خط کش ده برابر تعداد خطوط یک خط کش با همان طول است که صرفا بر حسب سانتیمتر مدرج شده باشد. fftline نیز در دستگاه آنالیز ارتعاشات چنین نقشی را ایفا می کند. در صورتی که fmin و fmax ثابت باشند افزایش fftline منجر به افزایش دقت اندازه گیری پیک ها بر حسب هرتز خواهد شد. مثلا اگر یک پیک ناشی از نابالاتسی در فرکانس 24 هرتز رخ دهد با افزایش fftline می بینیم که این پیک مثلا در فرکانس 23.7 هرتز رخ داده است نه 24 هرتز. بد نیست بدانید fftline در دستگاه تولیدی ما تا 12800 خط است. ناگفته نماند که بسیاری مهندسین بین مفهوم دقت و رزلوشن اشتباه می کنند. انشالله در پست های بعد در مورد رزلوشن و تفاوت آن با دقت توضیح خواهیم داد.
